模塊性能:
可以同時實現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學(xué)性能測試
1) 溫度;
2) 溫度梯度變化曲線;
3) 定性熱導(dǎo)率;
4) 相變溫度;
5) 定性熱容量;
模塊優(yōu)勢:
1)高性價比,能實現(xiàn)熱學(xué)掃描及熱學(xué)性質(zhì)測試的功能,價格僅為其為同類產(chǎn)品的一半;
2)精細(xì)測量,能達(dá)到20nm區(qū)域測溫;
3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形;
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首頁 > 供應(yīng)產(chǎn)品 > Appnano 熱掃描探針系統(tǒng)
詳細(xì)信息 hermal probe system熱掃描探針系統(tǒng),聯(lián)用AFM顯微鏡,既能實現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描,獲得高清晰度的圖像,同時能夠?qū)崿F(xiàn)樣品熱學(xué)性質(zhì)的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學(xué)性質(zhì)評估。
模塊性能: 可以同時實現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學(xué)性能測試 1) 溫度; 2) 溫度梯度變化曲線; 3) 定性熱導(dǎo)率; 4) 相變溫度; 5) 定性熱容量;
模塊優(yōu)勢: 1)高性價比,能實現(xiàn)熱學(xué)掃描及熱學(xué)性質(zhì)測試的功能,價格僅為其為同類產(chǎn)品的一半; 2)精細(xì)測量,能達(dá)到20nm區(qū)域測溫; 3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形; |