儀器簡介：
掃描探針顯微鏡(SPM)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質(zhì)而設計的。它能夠讓我們在幾微米到幾個埃的尺寸下肉眼觀察并定量測量樣品的力學性質(zhì)（硬度，彈性，粘度），電學性質(zhì)（導電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質(zhì)。Solver 平臺擁有超過40 種測量方法，并且實現(xiàn)在大氣，氣氛控制以及液體環(huán)境下進行工作。
技術參數(shù)：
測量模式： STM/ AFM (接觸 + 輕敲+非接觸)/ 橫向力/ 相位/ 力調(diào)制/力譜/粘附力/ 磁力/ 靜電力/ 開爾文/ 擴展電阻/納米壓痕/納米刻蝕: AFM (電壓刻蝕 + 力刻蝕)
掃描方式：樣品掃描、針尖掃描、雙掃描
測量頭部：AFM和SPM，可選配液相模式
最大樣品尺寸：樣品掃描：直徑40mm，厚度10mm。針尖掃描：樣品無限制
XY樣品定位裝置：移動范圍5×5um，精度5um
光學系統(tǒng)：根據(jù)客戶需求配置
樣品溫度控制：室溫~130℃
主要特點：
Solver P47-PRO SPM 是一種可以在空氣、液體和室溫～ 130°C 的可控氣氛下對不同的樣品進行高精度綜合分析的通用儀器。此型號不僅適合小公司或學校的試驗室使用，同樣適合大的研究中心使用。其現(xiàn)代化的設計提供了最高的測量精度和大量的SPM技術。可選配獨一無二的雙掃描結構可以將掃描范圍擴展到200x200um。該型號儀器現(xiàn)已裝備到全世界600多個實驗室，其中中國大陸正在使用的用戶達40多個。
多功能掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）