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冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：
電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測試工具.
冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格
◥型號：TS-408
◥內(nèi)箱尺寸：40×35×30cm
◥高溫槽溫度范圍：RT-100℃
◥低溫槽濕度范圍：-40℃～-10℃
◥試驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫:RT-100℃ ；低溫: -10℃～-40℃
◥升溫時(shí)間：RT-100℃約需15分鐘
◥降溫時(shí)間：RT～-40℃約需60分鐘
◥沖擊時(shí)間:0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999可設(shè)定.
◥沖擊恢復(fù)時(shí)間：高溫(100℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘；沖擊恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi).
◥試樣重量：1.5kg
◥結(jié)構(gòu)材質(zhì)：全機(jī)為SUS不銹鋼板霧面處理，內(nèi)箱為SUS#304鏡面不銹鋼
◥冷凍系統(tǒng)：復(fù)疊水冷式歐美原裝進(jìn)口全封閉或半密閉式壓縮機(jī)組.
◥控制器：大型LED彩色觸控人機(jī)界面控制器or單顯LED觸控人機(jī)接口控制器.
◥安全保護(hù)裝置：無熔絲過載保護(hù)器，壓縮機(jī)過熱、過流、超壓、加熱干燒、箱內(nèi)超溫警報(bào)系統(tǒng).
◥配 件：測試孔(φ50×1只)，試料架(2組)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)
◥冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)的三箱設(shè)備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品置于測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
◥采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。
◥沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
◥高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，最大時(shí)間可達(dá)999H，最大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
◥系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
◥冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式
冷熱沖擊試驗(yàn)箱特性:
◥全新歐美最先進(jìn)之防爆把手,完美的造型設(shè)計(jì),外觀質(zhì)感高水準(zhǔn).
◥采用大型人機(jī)觸控對話式LED人機(jī)接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠.
◥沖擊方式采用風(fēng)格切換方式,將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.
◥沖擊時(shí)間0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999次可設(shè)定.
◥可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜.
◥運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線,異常及故障點(diǎn)顯示說明及排除方法.
◥歐美原裝高效率復(fù)迭壓縮冷凍機(jī)組,運(yùn)轉(zhuǎn)噪音地，省能源之設(shè)備
◥采用PID自動演算控制功能,溫度控制精度高
◥可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可選擇二槽或三槽式冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊.
◥可獨(dú)立擔(dān)當(dāng)高溫箱或低溫箱使用,一機(jī)三用.
◥采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(HFC)制冷劑R404、R23.
冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
◥GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn)
◥GJB360.7溫度沖擊試驗(yàn)
◥GB/2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)
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